磁性膜测厚仪。
膜厚测试仪，分为手持式和台式两种，手持式和磁感应涂层测厚仪，涡流涂层测厚仪，荧光X射线涂层测厚仪。在磁感应原理中，包层的厚度取决于从探头通过非铁磁包层流入铁磁基体的磁通量的大小。还可以测量相应的磁阻以指示其厚度。
台式荧光X射线膜厚测试仪在X射线一次穿透金属元素样品时（通常称为二次荧光）会产生低能光子，并通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
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